Für ein Qualitätskontrollmodell werden \(300\) Mikrochips betrachtet. Jeder Chip ist unabhängig von den anderen mit der konstanten Wahrscheinlichkeit \(p=0{,}008\) defekt.
a) Berechne die Wahrscheinlichkeit dafür, dass kein Chip, genau ein Chip oder genau zwei Chips defekt sind. Gib die drei Ergebnisse als Prozentwerte auf zwei Nachkommastellen an.
b) Bestimme die Wahrscheinlichkeit, dass mehr als drei Chips defekt sind. Gib das Ergebnis als Prozentwert auf zwei Nachkommastellen an.
c) Wenn an \(365\) Tagen jeweils eine solche Gruppe von \(300\) Chips betrachtet wird, an wie vielen Tagen ist theoretisch zu erwarten, dass kein einziger Chip defekt ist? Runde auf ganze Tage.
Denkanstöße
- Welche Modellannahmen machen die Defektzahl binomialverteilt?
- Welches Gegenereignis gehört zu „mehr als drei“?
- Wie wird aus einer Tageswahrscheinlichkeit eine erwartete Anzahl von Tagen in \(365\) Wiederholungen?
Lösung
1. Für die Defektzahl \(X\) gilt \(X\sim B(300;0{,}008)\).
2. \(P(X=0)=0{,}992^{300}\approx0{,}089847\), also \(8{,}98\,\%\).
3. \(P(X=1)=\binom{300}{1}0{,}008\cdot0{,}992^{299}\approx0{,}217371\), also \(21{,}74\,\%\).
4. \(P(X=2)=\binom{300}{2}0{,}008^2 0{,}992^{298}\approx0{,}262072\), also \(26{,}21\,\%\).
5. Die kumulierte Binomialfunktion des Taschenrechners liefert \(P(X>3)=1-P(X\le3)\approx0{,}220771\), also \(22{,}08\,\%\).
6. Für c) wird die ungerundete Wahrscheinlichkeit aus Schritt 2 verwendet: \(365\cdot P(X=0)\approx32{,}794\). Gerundet sind etwa \(33\) Tage zu erwarten.
Antwort
a) \(8{,}98\,\%\); \(21{,}74\,\%\); \(26{,}21\,\%\)
b) \(22{,}08\,\%\)
c) Etwa \(33\) Tage.